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徕卡Leica DCM 3D白光共焦干涉显微镜
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3D光学轮廓显微镜
干涉测量技术。使用sensofar有技术开发的Neox光学轮廓仪,集成了共聚焦计数和干涉测量技术,并具有薄膜测量能力,该系统可以用于标准的明场彩色显微成像,共焦成像,三维共焦建模,PSI、VSI及
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HK-3000 3D光学轮廓显微镜
材料样品的理想设备。高品质干涉光学系统和集成压电扫描器是干涉轮廓仪部分的关键。这项技术对于测量非常光滑至适度粗糙的表面比较理想。这些技术的组合为neox轮廓仪提供了无限宽广的应用领域。可用于标准的明场
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徕卡 光学表面测量系统 Leica DCM8
Get the Full Picture!光学表面测量系统 Leica DCM8应用方向:白光共焦干涉显微镜。Leica DCM8采用了zei新的非接触式三维光学表面测量技术。设计用于提高您的
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Leica DCM 3D白光共焦干涉显微镜
表面:只需跟换物镜倍率,共焦和干涉模式; ·快速采图:3—10秒; ·优秀的干涉效果:徕卡独有的干涉物镜。 优秀的干涉效果:徕卡独有的干涉物镜
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薄膜厚度测量系统Delta白光干涉测厚仪
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俄罗斯NT-MDT 共焦光学显微镜/光谱系统
Confocal optical microscopy/spectroscopy system NTEGRA Spectra系统将激光共聚焦显微镜、拉曼光谱、光学显微镜和扫描探针显微镜
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VS1800 纳米尺度3D光学干涉测量系统
不断趋向平坦化、薄膜化及结构的微细化,人们开始要求比传统的普通SPM(扫描探针显微镜)、触针式粗糙度测量仪及激光显微镜等产品更高的测量精度。相比较利用光干涉原理的白光干涉扫描显微镜,纳米尺度3D光学
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共焦拉曼显微镜
衍射极限 自动X-Y-Z平台,实现高精度共焦拉曼影像扫描(Raman Mapping) 显微镜附带高性能影像CCD用于可视化调节 可选3D影像重构功能。 可做溶液环境下显微拉曼
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三维形貌分析软件SPIP
(SPM),干涉显微镜,扫描电子显微镜(SEM),共聚焦显微镜,光学显微镜,和三维轮廓仪等各种类型的显微镜及他们所生成的数据文件。更与aep Technolongy等从事表面研究仪器开发的知名公司合作
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